Выставка «Мэтр высокого стиля» в Арт Музее (Москва)

с 1 июня по 06 августа

С 1 июня по 6 августа, в рамках юбилейной X Московской международной биеннале «Мода и стиль в фотографии 2017», в Мультимедиа Арт Музее пройдет выставка легендарного фотографа Жанлу Сьеффа (1933 — 2000) «Мэтр высокого стиля». В экспозицию вошли 67 фотографий, созданных в период с 1952 по 2000 год. На выставке представлены портреты звезд кино, великих режиссеров, музыкантов, кутюрье, художников, фотографов, танцовщиц и моделей: Катрин Денев, Миа Фэрроу, Шарлотты Рэмплинг, Альфреда Хичкока, Франсуа Трюффо, Сержа Генсбура, Джейн Биркин, Ива Сен-Лорана, Жана-Поля Готье и многих других, а также съемки Жанлу Сьеффа для Vogue и Harper’s Bazaar, ставшие сегодня классикой мировой fashion-фотографии.